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Weiterbildung: Patentverletzungs-Analyse

 

Patentverletzungs-Analyse


 
Weitere Informationen zu diesem Seminar

Details:
Zielsetzung:
ist, den Teilnehmern die Einheit von Patentrecht und technischer Entwicklung logisch nachvollziehbar aufzuzeigen, den Zusammenhang darzustellen, an Beispielen zu üben und auf Entwicklungsaufgaben der Teilnehmer zu übertragen und anzuwenden.
Zielgruppe:
Fach- und Führungskräfte, Innovationsmanager, Entwicklungsleiter, in Forschung, Entwicklung und Konstruktion von Produkten und Verfahren tätige Ingenieure aller Fachrichtungen, Selbständige und Freiberufler
Schwierigkeitsgrad:
Training für Einsteiger und Fortgeschrittene
  
Voraussetzung:
W-H090-11-258-7
Beschreibung:

Erfinden ist Wertschöpfung auf dessen Grundlage alle Industrieländer ihren Wohlstand begründen. Das Patent ist die schutzrechtliche Sicherung einer Erfindung die durch qualitativ neue Merkmale gekennzeichnet ist und den Entwicklungsstand des Produktes und Verfahrens und damit auch des Unternehmens widerspiegelt. Die derzeitigen Probleme einer aussagefähigen Patent-Recherche liegen in den überwiegend verbalen und subjektiv unterschiedlichen Bewertungen jeder einzelnen Patentschrift auf Neuheit, Erfindungshöhe und Verletzung sowie in der fehlenden transparenten Darstellbarkeit dieser Patentschriften miteinander und ihrer Verbindungen und Verflechtungen untereinander. Hier setzt mit LOGOS die neue Patent-Bewertungs-Methode an, deren Kern eine klassifizierte und strukturierte Merkmal-Analyse von Patenten, Produkten und Verfahren ist auf deren Basis die Patent-Verletzungs-Analyse sowohl für Eigenentwicklungen als auch bei Fremdentwicklungen durchgeführt wird.

Inhalt:

Einheit von Technik und Schutzrecht - Erfindung und Patent • Eigene Produkte und Verfahren höher entwickeln und schützen • Fremde Patente und Gebrauchsmuster nicht verletzen - umgehen • Einheits-Analyse von Patenten, Produkten und Verfahren • Erarbeiten von Entwicklungsmerkmalen mit Erfindungshöhe • Klassifizierung und Strukturierung von Merkmalen • LOGOS Pyramide - das Einheits-Struktur-Modell • Produkt-Merkmal-Struktur und Patent-Merkmal-Struktur • Merkmal-Vergleich der Hauptansprüche und Unteransprüche • Gegenüberstellung der Produkt-Merkmale mit den Patent-Merkmalen • Erstellen von allgemeinen und speziellen Merkmal-Speichern • Ermittlung der patentfreien Entwicklungsräume

Bemerkung:
https://www.hdt.de/patentverletzungs-analyse-seminar-h093031196
Seminartyp/en:
Offenes Training
Kategorien:
Forschung
Patentrecht
 

Termine, Ort und Preis auf Anfrage

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Letzte Aktualisierung: 27.11.2021
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