Suche
Seminare
Seminare
elearning
Seminaranbieter
Trainer
News
Seminarräme
Seminargesuche
Seminaranfragen
Seminarräme
Services
Kundenlogin
FAQ
Mediadaten
Statistik
Über uns
Partner

Weiterbildung: Testverfahren und Teststrategien in der Elektronik

 

Testverfahren und Teststrategien in der Elektronik


 
Weitere Informationen zu diesem Seminar

Details:
Zielsetzung:
Der Einsatz neuer Technologien wie SMD, COB, BGA usw. sowie der Wandel in der Qualitätssicherung (Prozess-Sicherung statt Endkontrolle) fordert ständige Anpassungen, Optimierungen und Einführung neuer Testverfahren. In Teststrategien zu denken ist unabdingbar, wenn man für die heutigen und zukünftigen Produkte die Testkosten reduzieren und trotzdem die Qualität steigern will. Kein Testverfahren alleine bringt ausreichende Fehlerabdeckung. Um aber eine optimale Teststrategie umsetzen zu können, müssen bereits während der Entwicklung die dafür notwendigen Testbarkeitsrichtlinien integriert werden. Jedes Testverfahren benötigt in der Regel auch individuelle Design for Test-Maßnahmen (DFT). Die Betrachtung nur eines einzigen Testverfahrens führt nicht zu dem angestrebten Ziel der Kostenreduzierung und Qualitätssteigerung. Die optimale Teststrategie zu ermitteln, ist Teamarbeit, d.h. Produktion, Prüffeld, Entwicklung und Qualitätssicherung sind involviert. Ziel des Seminars ist es, Ihnen das erforderliche Know-how für die heute aktuellen Testverfahren mit deren Vor- und Nachteilen, die Erarbeitung von optimalen Teststrategien sowie die Integration der Testverfahren im Unternehmensumfeld zu vermitteln.
Zielgruppe:
Ingenieure und Techniker aus den Bereichen Entwicklung und Qualitätssicherung von Elektronik-Baugruppen.
Schwierigkeitsgrad:
Training für Einsteiger
  
Beschreibung:
Der Einsatz neuer Technologien wie SMD, COB, BGA usw. sowie der Wandel in der Qualitätssicherung (Prozess-Sicherung statt Endkontrolle) fordert ständige Anpassungen, Optimierungen und Einführung neuer Testverfahren. In Teststrategien zu denken ist unabdingbar, wenn man für die heutigen und zukünftigen Produkte die Testkosten reduzieren und trotzdem die Qualität steigern will. Kein Testverfahren alleine bringt ausreichende Fehlerabdeckung. Um aber eine optimale Teststrategie umsetzen zu können, müssen bereits während der Entwicklung die dafür notwendigen Testbarkeitsrichtlinien integriert werden. Jedes Testverfahren benötigt in der Regel auch individuelle Design for Test-Maßnahmen (DFT). Die Betrachtung nur eines einzigen Testverfahrens führt nicht zu dem angestrebten Ziel der Kostenreduzierung und Qualitätssteigerung. Die optimale Teststrategie zu ermitteln, ist Teamarbeit, d.h. Produktion, Prüffeld, Entwicklung und Qualitätssicherung sind involviert. Ziel des Seminars ist es, Ihnen das erforderliche Know-how für die heute aktuellen Testverfahren mit deren Vor- und Nachteilen, die Erarbeitung von optimalen Teststrategien sowie die Integration der Testverfahren im Unternehmensumfeld zu vermitteln.
Inhalt:
* Ziele und Bedeutung der Sichtkontrolle - Optische Beurteilungskriterien und Hilfsmittel * Automatische Inspektion (AOI, AXI) - Aufbau und Unterschiede von 2D/3D-AOI-Systemen - Methoden der Bauteil- und Lötstellenerkennung - Röntgentechnik - Vergleich der AOI-Methoden * In-Circuit-Testverfahren - Aktives und passives Guarding - Backdriving, Pin-Architekturen, Multiplexing - Grenzen des In-Circuit-Tests * Funktionstestverfahren * Selbsttest (BIST) * Emulationsverfahren - Mikroprozessor-Emulation (ICE), ROM-Emulation, Bus-Emulation * Simulation - Goodboard-Simulation und Fehlersimulation * Boundary Scan - Funktion, Betriebsarten und Teststrategien * Realisierungen bei Testsystemen * Vergleich der Testverfahren bezüglich - Fehlerabdeckung, Fehlererkennung, Diagnose, Adapter- und Testprogrammkosten * Testbarkeitsrichtlinien (DFT) - Globale Entwurfsrichtlinien, FMEA, DFT für Sichtkontrolle, AOI, AXI, ICT, FKT und Boundary Scan * CAD-Link für Testsysteme - Möglichkeiten und Vorteile der CAD-Datenübernahme * Computerunterstützte Reparatur - Test- und Reparaturprozesse, Paperless Repair, Yield-Regelkreis * Reparaturprozesse mit Nullfehler- und Yield-Regelkreis * Adaptierungsmöglichkeiten - Adaptionsarten, Verdrahtung, Auswahl von Federkontaktstiften * Optimierung von Teststrategien - Ziele, Einflüsse und Parameter bei der Auswahl von Teststrategien in der Produktion und im Service
Methode:
Vortrag, Diskussion, Praxisbeispiel Teststrategie-Ermittlung, Seminarunterlagen
Max. Teilnehmer:
20
Seminartyp/en:
Inhouse Training Inhouse Seminar
Offenes Training
behindertengerechtes Seminar:
ja
Kategorien:
Elektrotechnik
 

Termine:
28.10.20 - 29.10.20 Altdorf b. Nürnberg    1.100,00 Euro MwSt. befreit 2 Tage
Kontakt/Seminaranfrage Katalog

Aktuelle weitere Weiterbildungsangebote aus der Kategorie Elektrotechnik


Training für EinsteigerInhouse TrainingOffenes Training

Training für EinsteigerInhouse TrainingOffenes Training

Training für EinsteigerInhouse TrainingOffenes Training

Training für EinsteigerInhouse TrainingOffenes Training

Training für EinsteigerInhouse TrainingOffenes Training



Verwandte Kategorien

Hinweis: Klicken Sie auf eine Kategorie, um die Übersicht für diese Kategorie zu öffnen.

(nach Seminaren, Anbietern & Trainern)
 
Folgen Sie seminus auf Twitter!
Folgen Sie seminus auf Twitter
Letzte Aktualisierung: 21.09.2020
  © seminus GmbH 1995-2020 – Für die Richtigkeit der Daten übernehmen wir keine Gewähr.  
  Weiterbildungen | Fortbildungen | Seminare | Kurse | Schulungen | Trainings | E-learning  
  Trainer | Seminaranbieter | Portale